放射線断層撮影装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998367263
Publication number (International publication number)：2000193609
Application date： Dec. 24, 1998
Publication date： Jul. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】小型であって高いコントラストの放射線断層画像を得ることができる放射線断層撮影装置を提供する。【解決手段】放射線源20、試料台30および2次元放射線検出器40それぞれは、試料10を透過した放射線の位相コントラスト像が2次元放射線検出器40により検出され得るように配置される。走査部60により制御されて、試料台30は試料原点Sを中心に傾斜または回転し、2次元放射線検出器40は検出器原点Dを中心に傾斜または回転する。放射線源20の焦点F、試料原点Sおよび検出器原点Dは一本の直線上にある。また、試料台20および2次元放射線検出器40それぞれの方位は互いに平行に維持される。

Claim (excerpt)：

放射線を試料に向けて出射する放射線源と、前記試料を固定する試料台と、前記試料を透過した放射線の位相コントラスト像を検出する2次元放射線検出器と、前記試料台および前記2次元放射線検出器それぞれの方位を互いに平行に維持したまま、前記放射線源の焦点を通る直線上の第1の点を中心に前記試料台を傾斜または回転させ、前記直線上の第2の点を中心に前記2次元放射線検出器を傾斜または回転させて走査する走査手段と、を備えることを特徴とする放射線断層撮影装置。

F-Term (16)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA01 , 2G001DA09 , 2G001GA13 , 2G001HA08 , 2G001HA12 , 2G001HA13 , 2G001HA14 , 2G001HA15 , 2G001HA20 , 2G001JA06 , 2G001JA08 , 2G001JA11 , 2G001JA20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

ラミノグラフ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-136751 Applicant：株式会社東芝
X線断層撮影方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-158121 Applicant：株式会社日立製作所
位相型X線CT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-002048 Applicant：株式会社日立製作所

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