Pat
J-GLOBAL ID：200903064865476403

被曝面積線量計測方法及び装置、吸収面積線量計測方法及び装置、プログラム、記憶媒体、並びに放射線撮影装置

Inventor：
為我井 正博

About 為我井 正博


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (4)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002228022
Publication number (International publication number)：2004069441
Application date： Aug. 05, 2002
Publication date： Mar. 04, 2004
Summary：
【課題】放射線撮影における被写体の被曝面積線量を適切に取得すること。【解決手段】被写体を放射線撮影して得られた放射線画像における、照射領域の面積と、被写体領域の面積及び素抜け領域の面積のいずれか一方とを算出し(S2,S3)、放射線発生装置から照射された実効線量を取得し(S4)、前記照射領域面積と、前記被写体領域面積及び前記素抜け領域面積のいずれか一方と、前記実効線量とに基づいて、前記被写体に照射された放射線量としての被曝面積線量を算出する(S5)。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
被写体を放射線撮影して得られた放射線画像における、照射領域の面積と、被写体領域の面積及び素抜け領域の面積のいずれか一方とを算出する面積算出工程と、 放射線発生装置から照射された実効線量を取得する取得工程と、 前記照射領域面積と、前記被写体領域面積及び前記素抜け領域面積のいずれか一方と、前記実効線量とに基づいて、前記被写体に照射された放射線量としての被曝面積線量を算出する線量算出工程と を有することを特徴とする被曝面積線量計測方法。
IPC (3)：
G01T1/02 ,  G01T1/00 ,  H05G1/26
FI (3)：
G01T1/02 A ,  G01T1/00 B ,  H05G1/26 E
F-Term (14)：
4C092AA01 ,  4C092AB30 ,  4C092AC01 ,  4C092DD01 ,  4C093AA16 ,  4C093CA50 ,  4C093EA12 ,  4C093EE30 ,  4C093FD01 ,  4C093FF16 ,  4C093FF21 ,  4C093FF23 ,  4C093FH06 ,  4C093FH07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (24)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM