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J-GLOBAL ID：200903065333425394

画像処理によるひび割れの計測方法

Inventor： 武田 篤史 ,  山田 守 ,  橋本 周司 ,  伊藤 厚史 ,  青木 義満
Applicant, Patent owner： 株式会社大林組 ,  学校法人早稲田大学
Agent (1)： 松本 雅利
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002019536
Publication number (International publication number)：2003214827
Application date： Jan. 29, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：

【要約】【課題】 精度よくひび割れを把握すること。【解決手段】 計測方法の手順が開始されると、ステップ1で、原画像データが作成される。次のステップ2では、得られた原像データのシェーディング補正が行われる。ステップ3では、原画像データの2値化処理が行われ、ステップ4では、ひび割れ領域Bの抽出が行われる。次のステップ5では、ステップ4でひび割れであると判断された領域Bの、各ピクセルの輝度値を加算して、輝度値合計を求め、これを見掛面積S'1とする。ステップ6では、見掛面積S'1に補正係数k1を乗算して、面積Sを求めて手順が終了する。

Claim (excerpt)：

構造物表面などを撮像して、ひび割れ計測の対象となる原画像データを作成し、前記原画像データを画像処理して、前記ひび割れの面積を求めるひび割れの計測方法において、前記原画像データをピクセル毎に2値化した後に、ひび割れ領域を判定し、前記ひび割れ領域内の各画素の輝度値合計を求めて、これを前記ひび割れの見掛面積とし、前記見掛面積から前記ひび割れ面積を求めることを特徴とする画像処理によるひび割れの計測方法。

IPC (5)：

G01B 11/28 ,  G01B 11/02 ,  G01N 21/88 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 110

FI (5)：

G01B 11/28 Z ,  G01B 11/02 H ,  G01N 21/88 Z ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 110

F-Term (44)：

2F065AA21 ,  2F065AA58 ,  2F065BB02 ,  2F065BB26 ,  2F065CC14 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ32 ,  2G051AA90 ,  2G051AB07 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA16 ,  2G051ED03 ,  2G051ED30 ,  5B057AA20 ,  5B057BA29 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE12 ,  5B057CH01 ,  5B057DC04 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096EA05 ,  5L096EA43 ,  5L096FA02 ,  5L096FA59