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J-GLOBAL ID：200903065366015302

機器の診断方法および診断装置

Inventor： 寺本 徹夫 ,  東 成昭 ,  足利 貢 ,  杉本 隆雄 ,  永井 勝史 ,  笠 正憲
Applicant, Patent owner： 川崎重工業株式会社
Agent (1)： 曽々木 太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999347694
Publication number (International publication number)：2001166824
Application date： Dec. 07, 1999
Publication date： Jun. 22, 2001
Summary：

【要約】【課題】 予測精度が向上されるとともに、汎用性を有する機器の診断方法および診断装置を提供する。【解決手段】 状態量の時間的変化が特定のパターンとなるプラントなどの機器において、状態量を状態量検出手段11により検出してその時間微分値を状態量微分値算出手段12により算出し、その算出された状態量の時間微分値がその状態量に対する制限値を超えている場合に異常と診断するものである。

Claim (excerpt)：

状態量の時間的変化が特定のパターンとなる機器に適用される診断方法であって、検出された状態量の時間微分値が、その状態量に対する制限値を超えている場合、異常と診断することを特徴とする機器の診断方法。

F-Term (5)：

5H223AA01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF02 ,  5H223FF06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 二重化された検出器を具えた自動制御装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-332372   Applicant：東京電力株式会社, 三菱重工業株式会社
• 特開平1-100608