Pat
J-GLOBAL ID：200903065371462007

積層板の検査装置及び検査方法

Inventor：
石黒 宏幸

About 石黒 宏幸


Applicant, Patent owner：
パナソニック電工株式会社

About パナソニック電工株式会社


Agent (2)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007306597
Publication number (International publication number)：2009128323
Application date： Nov. 27, 2007
Publication date： Jun. 11, 2009
Summary：
【課題】積層板の色調を問わず、目視によらないでボイドや金属異物の有無を自動的に検査することができる積層板の検査装置を提供する。【解決手段】積層板の検査装置に関する。積層板1にX線を照射するX線発生部2と、受光X線量に応じた濃淡値を持つ原画像を得る撮像部3と、原画像を平滑化処理して平滑化画像を得ると共に、原画像と平滑化画像との間で画素単位で差分を取る減算処理を行って差分画像を得た後、この差分画像を2値化処理して2値化画像を得る画像処理部4と、この2値化画像を基に積層板1中の欠陥6の有無を判定する判定部5と、を具備する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
積層板にX線を照射するX線発生部と、受光X線量に応じた濃淡値を持つ原画像を得る撮像部と、原画像を平滑化処理して平滑化画像を得ると共に、原画像と平滑化画像との間で画素単位で差分を取る減算処理を行って差分画像を得た後、この差分画像を2値化処理して2値化画像を得る画像処理部と、この2値化画像を基に積層板中の欠陥の有無を判定する判定部と、を具備して成ることを特徴とする積層板の検査装置。
IPC (2)：
G01N 23/04 ,  G06T 1/00
FI (2)：
G01N23/04 ,  G06T1/00 300
F-Term (33)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001HA07 ,  2G001JA07 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001KA05 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001QA01 ,  5B057AA03 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE05 ,  5B057CF01 ,  5B057CF02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM