Pat
J-GLOBAL ID：200903065573620933

画像処理装置及び方法

Inventor：
ウォーレス,ヴィンセント,パトリック

About ウォーレス,ヴィンセント,パトリック

, 
ウッドワード,ルース,メアリー

About ウッドワード,ルース,メアリー

, 
アーノン,ドナルド,ドミニク

About アーノン,ドナルド,ドミニク

, 
コール,ブライアン,エドワード

About コール,ブライアン,エドワード


Applicant, Patent owner：
テラビュー リミテッド

About テラビュー リミテッド


Agent (3)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003527406
Publication number (International publication number)：2005504959
Application date： Jul. 29, 2002
Publication date： Feb. 17, 2005
Summary：
標本を画像処理する方法で、該方法は:(a)25GHzから100THzまでの範囲の複数の周波数を有する、電磁放射線パルスによって標本を照射する工程;(b)時間領域において、標本から反射された放射線と標本によって透過された放射線とのいずれか又は両方の振幅に関する第1パラメータを判定する工程;(c)時間に対して第1パラメータのデータ群の物理的特徴と一致する第2時間値で第1パラメータの値に対して第1時間値で第1パラメータの値を算定する工程;及び(d)標本の異なった点について工程(c)で算定された値を表すことによって画像を生成する工程;を有する。
Claim (excerpt)：
標本を画像処理する方法であって: 電磁放射線の、25GHzから100THzまでの範囲における複数の周波数を有する、パルスによって標本を照射する第1工程; 時間領域において、前記標本から反射された前記放射線と前記標本によって透過された前記放射線とのいずれか又は両方の振幅に少なくとも関係する第1パラメータを判定する第2工程; 第1時間値での前記第1パラメータの値を、第2時間値での前記第1パラメータの値に対して、時間において前記第2時間値が前記第1パラメータの物理的特徴と一致するように、算定する第3工程;及び 前記標本の異なる点について前記第3工程において算定された値を表すことによって画像を生成する第4工程; を有することを特徴とする方法。
IPC (2)：
G01N21/17 ,  G01N21/35
FI (2)：
G01N21/17 625 ,  G01N21/35 Z
F-Term (27)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ21 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM08 ,  2G059MM09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM