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J-GLOBAL ID：200903065582737932

光学特性測定装置

Inventor：
三橋 俊文

About 三橋 俊文

, 
小林 克彦

About 小林 克彦


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997327098
Publication number (International publication number)：1999137522
Application date： Nov. 11, 1997
Publication date： May. 25, 1999
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】所定のパターンを網膜に投影して被検眼の光学特性を精密に測定する光学特性測定装置に係わり、特に不正乱視成分の光学特性を測定できる光学特性測定装置を提供する。【解決手段】照明光学系が、光源100からの光束による照明状態を変更できる照明状態変更部210を介して被検眼網膜300を照明し、受光光学系が、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光し受光部500に導き、光学特性演算部600が、受光部からの出力信号に基づいて、被検眼の光学特性を求める様になっており、照明状態変更部が、光学特性演算部600で得られた光学特性に基づき、照明光学系が被検眼網膜上で微小な領域を照明する様に、照明光学系の照明状態を変更する様になっている。
Claim (excerpt)：
照明用の光源と、該光源からの光束による照明状態を変更できる照明状態変更部を介して被検眼網膜を照明する照明光学系と、前記被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光し受光部に導く受光光学系と、この受光部からの出力信号に基づいて、被検眼の光学特性を求める光学特性演算部とを有し、前記照明状態変更部が、前記光学特性演算部で得られた光学特性に基づき、前記照明光学系が被検眼網膜上で微小な領域を照明する様に、前記照明光学系の照明状態を変更することを特徴とする光学特性測定装置。
IPC (2)：
A61B 3/10 ,  A61B 3/036
FI (2)：
A61B 3/10 N ,  A61B 3/02 G
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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