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J-GLOBAL ID：200903065653437005

内視鏡装置

Inventor： 古澤 宏一 ,  江口 勝 ,  岡田 慎介 ,  小澤 了 ,  宇津井 哲也 ,  中村 哲也
Applicant, Patent owner： 旭光学工業株式会社
Agent (1)： 金井 英幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000196206
Publication number (International publication number)：2001070229
Application date： Jun. 29, 2000
Publication date： Mar. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】 良好な状態の通常画像及び蛍光画像とともに断層像が得られる内視鏡装置を、提供する。【解決手段】 内視鏡1における挿入部11の先端に、細長い略円柱状部分11aと、この略円柱状部分11aの先端に位置する扁平部分11bと、これら略円柱状部分11a及び扁平部分11b間に位置する斜面11cとを、形成する。斜面11cには、照明光学系12の配光レンズ12a,及び対物光学系13の対物レンズ13aが嵌め込まれている。また、扁平部分11bには走査窓Sが配置され、OCT走査部15は、この走査窓Sから低可干渉性光を射出させて走査を行う。走査窓Sは、対物光学系13の視野外に配置されているので、通常画像及び蛍光画像には、被検体のみが良好な状態で収められている。さらに、この状態において、走査窓Sから低可干渉性光が射出されて断層像が得られる。

Claim (excerpt)：

被検体を照明する照明光学系と、被検体表面からの光を収束させて、被検体表面の像を形成する対物光学系と、該対物光学系によって形成された被検体表面の像を撮像する撮像手段とを、備えた内視鏡装置であって、前記対物光学系の視野外に配置されるとともに、該対物光学系の視野内にある被検体に対向するように配置された走査窓と、第1の導波路,第2の導波路,及びこれら両導波路を光学的に結合する結合手段と、前記第1の導波路及び第2の導波路のうちの一方の基端側に配置され、当該導波路に低可干渉性光を入射させる低可干渉性光源と、前記第1の導波路の先端から射出された低可干渉性光を、前記走査窓から射出させて前記被検体上において走査させるとともに、この被検体により反射されて前記走査窓から入射した低可干渉性光を、測定光として再び前記第1の導波路へ入射させる走査部と、前記第2の導波路の先端から射出された低可干渉性光を反射させて、参照光として再び前記第2の導波路へ入射させる反射手段と、前記結合手段から前記第1の導波路を経由して被検体に至る光路長と、前記結合手段から前記第2の導波路を経由して前記反射手段に至る光路長とを、相対的に変化させる光路長調整手段と、前記第1の導波路及び第2の導波路のうちの他方の基端側に配置され、前記測定光及び前記参照光が干渉して生じた干渉光を信号として検出する光検出器と、前記光路長調整手段が前記両導波路の光路長を変化させるとともに前記走査部が低可干渉性光を走査させている間に、前記光検出器から検出された信号に基づき、前記被検体の断層像を形成する信号処理手段とを備えたことを特徴とする内視鏡装置。

IPC (4)：

A61B 1/00 300 ,  A61B 1/00 ,  A61B 1/04 372 ,  G01N 21/17 630

FI (5)：

A61B 1/00 300 P ,  A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/00 300 Z ,  A61B 1/04 372 ,  G01N 21/17 630

F-Term (30)：

2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE07 ,  2G059EE09 ,  2G059EE13 ,  2G059GG06 ,  2G059GG09 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM10 ,  2G059NN01 ,  2G059PP04 ,  4C061AA00 ,  4C061BB01 ,  4C061BB08 ,  4C061CC02 ,  4C061CC06 ,  4C061DD00 ,  4C061FF40 ,  4C061FF50 ,  4C061LL02 ,  4C061NN01 ,  4C061PP11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 光断層イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-309076   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 超音波内視鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-273731   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 蛍光診断用電子内視鏡装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-241104   Applicant：旭光学工業株式会社