クロマトグラフ質量分析装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小林良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999021278
Publication number (International publication number)：2000131284
Application date： Jan. 29, 1999
Publication date： May. 12, 2000
Summary：

【要約】【課題】バックグラウンドノイズによる影響を除去し正確なクロマトグラムを求める。【解決手段】目的試料の測定に先立って、試料成分を含まない溶媒のみの試料液を同一測定条件でもって測定し、それにより得られたデータを保持時間と質量数とに対応付けて記憶部24に格納しておく。このデータSnは、溶媒に含まれる不純物やカラムに残留する成分などの不所望のピークに関する情報を含む。目的試料の測定時には、検出器で得られたデータに対し、同一保持時間、同一質量数のデータを記憶部24から読み出し減算処理部22で減算する。バックグラウンドノイズ分が除去されたデータSuは記憶部25に蓄積され、データ解析部23はデータSuに基づいて、正確なマススペクトルやクロマトグラムを作成する。

Claim (excerpt)：

a)目的試料の測定に先立って、試料成分を含まない溶媒のみを導入して所定の測定条件下でクロマトグラフ質量分析を行うことにより得られたデータをノイズデータとして記憶しておく記憶手段と、b)前記目的試料を導入して前記所定の測定条件下でクロマトグラフ質量分析を行うことにより得られたデータに対し、同一保持時間及び同一質量数におけるノイズデータを前記記憶手段から読み出して減算する演算手段と、c)該演算手段により減算処理されたデータを基にマススペクトル又はクロマトグラムを作成するデータ処理手段と、を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。

IPC (3)：

G01N 27/62 , G01N 30/72 , G01N 30/86

FI (6)：

G01N 27/62 C , G01N 27/62 X , G01N 30/72 A , G01N 30/72 C , G01N 30/86 L , G01N 30/86 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特開昭63-135854
質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-359023 Applicant：株式会社島津製作所
特開昭60-011165

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