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J-GLOBAL ID：200903065837590868
微粒子成分分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
渡辺 正康 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995000328
Publication number (International publication number)：1996184566
Application date： Jan. 05, 1995
Publication date： Jul. 16, 1996
Summary：
【要約】【目的】 測定時間の短縮化をはかるとともに装置の小型化,低価格化をはかった微粒子成分分析装置を提供する。【構成】 微粒子をマイクロ波を利用して原子化・イオン化して励起・発光させ,発光した光をフーリエ変換手段を用いて解析することにより,前記微粒子の成分及び大きさを検知するように構成した。
Claim (excerpt)：
微粒子をマイクロ波を利用して原子化・イオン化して励起・発光させ,発光した光をフーリエ変換手段を用いて解析することにより,前記微粒子の成分及び大きさを検知するように構成したことを特徴とする微粒子成分分析装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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