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J-GLOBAL ID：200903065837590868

微粒子成分分析装置

Inventor： 山崎 弘郎 ,  高原 寿雄 ,  片倉 久雄
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 渡辺 正康 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995000328
Publication number (International publication number)：1996184566
Application date： Jan. 05, 1995
Publication date： Jul. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測定時間の短縮化をはかるとともに装置の小型化,低価格化をはかった微粒子成分分析装置を提供する。【構成】 微粒子をマイクロ波を利用して原子化・イオン化して励起・発光させ,発光した光をフーリエ変換手段を用いて解析することにより,前記微粒子の成分及び大きさを検知するように構成した。

Claim (excerpt)：

微粒子をマイクロ波を利用して原子化・イオン化して励起・発光させ,発光した光をフーリエ変換手段を用いて解析することにより,前記微粒子の成分及び大きさを検知するように構成したことを特徴とする微粒子成分分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/73 ,  G01N 15/10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 微粒子成分分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-289038   Applicant：横河電機株式会社
• 特開昭62-249020
  
• 特開平4-351952
  
• 特開平3-249551