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J-GLOBAL ID：200903066115886343

微分干渉顕微鏡

Inventor：
福島 郁俊

About 福島 郁俊


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001191823
Publication number (International publication number)：2003005080
Application date： Jun. 25, 2001
Publication date： Jan. 08, 2003
Summary：
【要約】【課題】機械的な動作などの煩雑な操作を必要とすることなく、観察条件を容易に変更できる微分干渉顕微鏡を提供する。【解決手段】微分干渉顕微鏡は、偏光方向の異なる二本の光束を生成する照明手段2と、観察物体1を透過した二本の光束を重ね合わせて結像させる拡大光学系3と、二本の光束の間の位相差を調整する空間光変調器4と、観察物体1の画像を撮像する撮像手段5と、その画像を解析する画像解析手段6と、解析結果に基づいて空間光変調器4の変調に必要なパラメータを決定するパラメータ決定手段7とを備えている。照明手段2は光源21と偏光子22とノマルスキープリズム23とコンデンサレンズ24とを有している。拡大光学系3は対物レンズ31とノマルスキープリズム34と検光子33とを有している。検光子33と偏光子22はクロスニコルの関係に配置されている。
Claim (excerpt)：
観察物体に偏光方向の異なる複数光束を照射して観察する微分干渉顕微鏡であり、前記観察物体に照射される偏光方向の異なる複数光束を生成する照明手段と、前記観察物体を経由した前記照明手段からの偏光方向の異なる複数光束を、重ね合わせて結像させ、結像面に前記観察物体の像を生成する光学系と、前記照明手段で生成された偏光方向の異なる複数光束間の相対的位相差を、外部からの信号によって調整可能な空間光変調器とを備えることを特徴とする微分干渉顕微鏡。
IPC (5)：
G02B 21/00 ,  G01B 9/02 ,  G02B 21/06 ,  G02F 1/13 505 ,  G02F 1/13357
FI (5)：
G02B 21/00 ,  G01B 9/02 ,  G02B 21/06 ,  G02F 1/13 505 ,  G02F 1/13357
F-Term (34)：
2F064CC00 ,  2F064EE10 ,  2F064FF03 ,  2F064GG23 ,  2F064GG33 ,  2F064GG34 ,  2F064GG42 ,  2F064GG53 ,  2F064HH03 ,  2F064HH08 ,  2F064KK01 ,  2H052AA05 ,  2H052AC01 ,  2H052AC04 ,  2H052AC05 ,  2H052AC33 ,  2H052AD31 ,  2H052AF14 ,  2H052AF25 ,  2H088EA37 ,  2H088FA11 ,  2H088HA18 ,  2H088HA20 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA07X ,  2H091FA07Z ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FA10X ,  2H091FA21X ,  2H091FA26X ,  2H091FA41Z ,  2H091LA30
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
  • 干渉顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-031062   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 微分干渉顕微鏡装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-265290   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

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