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J-GLOBAL ID:200903066155427465

超音波探傷方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 小林 久夫 ,  安島 清 ,  佐々木 宗治 ,  大村 昇 ,  高梨 範夫 ,  山東 元希
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005135999
Publication number (International publication number):2006313115
Application date: May. 09, 2005
Publication date: Nov. 16, 2006
Summary:
【課題】 超音波探傷において、、探傷用の超音波の強度を正確に監視、得られたきずに関するデータの補正等を行い、高精度な超音波探傷を行うことができる方法及び装置を提供する。【解決手段】 検査対象物100表面に直接又は接触媒質を介して配設した複数の垂直縦波振動子1により、検査対象物100に応力を加えて検査対象物100内に入射縦波111A及び入射横波111Bを同時又は非同時に発生させ、超音波の反射により得られるエコーのうち、反射縦波112A及び反射横波112Bの、一方の成分に基づく信号を探傷用信号とし、他方の成分に基づく信号をカップリング監視信号とする。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
検査対象物表面に直接又は接触媒質を介して配設した複数の振動子により、前記検査対象物に応力を加えて検査対象物内に超音波の縦波成分及び横波成分を同時又は非同時に発生させ、前記超音波の反射により得られるエコーのうち、前記エコーの縦波成分及び横波成分の、一方の成分に基づく信号を探傷用信号とし、他方の成分に基づく信号を超音波監視信号とすることを特徴とする超音波探傷方法。
IPC (3):
G01N 29/04 ,  G01N 29/24 ,  G01N 29/28
FI (3):
G01N29/04 501 ,  G01N29/24 502 ,  G01N29/28
F-Term (20):
2G047AA07 ,  2G047AB04 ,  2G047AB07 ,  2G047AD08 ,  2G047BA03 ,  2G047BB01 ,  2G047BB02 ,  2G047BC07 ,  2G047BC18 ,  2G047CB01 ,  2G047CB02 ,  2G047DA02 ,  2G047DA03 ,  2G047GB02 ,  2G047GE08 ,  2G047GF22 ,  2G047GG16 ,  2G047GG19 ,  2G047GG34 ,  2G047GG41
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
  • 超音波探傷方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-064333   Applicant:住友金属工業株式会社
  • 超音波探触子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-097675   Applicant:日本鋼管株式会社
  • 特開昭58-088653
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