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J-GLOBAL ID：200903066176350225

導波装置、電気特性測定装置及び電気特性測定方法

Inventor： 高橋 毅 ,  三浦 太郎 ,  橋本 修 ,  阿部 琢美
Applicant, Patent owner： ティーディーケイ株式会社
Agent (1)： 阿部 美次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996068106
Publication number (International publication number)：1997257851
Application date： Mar. 25, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：

【要約】【課題】 使用形態の試料の電気特性を容易、かつ、迅速に高精度で測定する。【解決手段】 空胴共振器または導波管で構成される導波装置1は、導波空間11を形成する金属壁面12に開口部13を有している。開口部13は、使用形態を有する試料2を、導波空間11の内部に導入し得る大きさを有する。試料2を挿入した導波装置2を励振すると共に、導波装置1の出力信号を解析することにより、試料2の電気特性を測定する。

Claim (excerpt)：

試料の電気特性を測定するために用いられる導波装置であって、導波空間を形成する金属壁面に、少なくとも一つの開口部を有しており、前記開口部は、使用形態を有する前記試料を、前記導波空間内に導入し得る大きさを有する導波装置。

IPC (5)：

G01R 27/26 ,  G01R 29/08 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 ,  H01P 7/06

FI (5)：

G01R 27/26 Z ,  G01R 29/08 Z ,  G01R 31/00 ,  H01P 7/06 ,  G01R 31/28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平1-163645
  
• 気密高周波窓の誘電体円板検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-308304   Applicant：三菱電機株式会社