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J-GLOBAL ID：200903066203833462

スペクトル測定装置

Inventor： 中村 健次
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995007332
Publication number (International publication number)：1996201279
Application date： Jan. 20, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】 光学的性質とともに光学的性質以外の耐熱性、耐圧性、耐摩耗性耐腐食性などの性質が優れたATRプリズムを用いたスペクトル測定装置を提供する。【構成】 ATRプリズム1は単一物質からなるATRプリズム本体10と、被測定試料が密着される反射面11、12に形成されるダイヤモンド薄膜20とを有し、被測定試料とはダイヤモンド膜を介してATRプリズムに接触されるこようにする。

Claim (excerpt)：

測定光が入射される入射面、被測定試料が密着されることによりこの被測定試料表面により前記測定光が反射される少なくとも1つの反射面、反射面において反射された後の測定光が出射される出射面とを有するATRプリズムを用いて測定するスペクトル測定装置において、前記ATRプリズムは単一物質からなるATRプリズム本体と、被測定試料が密着される反射面に形成されるダイヤモンド薄膜とを有していることを特徴とするスペクトル測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光干渉による分析対象の検出装置およびその方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-236198   Applicant：サーモバイオスターインコーポレイテッド
• 特表平7-509565