チップレベル導波管センサ

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：中村稔 (外6名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1995522500
Publication number (International publication number)：1997512901
Application date： Feb. 27, 1995
Publication date： Dec. 22, 1997
Summary：

【要約】少なくとも1つの光源及び少なくとも1つの検出器を収容するチップパッケージ上に形成された導波管センサ。チップ上には、簡単な導波管要素が取り付けられている。簡単な導波管本体の挿入及び取外しが可能となるように、導波管形成要素をチップパッケージと一体成形できる。種々の幾何学的形状をもつ光源、基準検出器及び検出器を製造できる。導波管チャンネルに液体試薬を充填することにより、液体導波管センサが形成される。

Claim (excerpt)：

モジュラ基板を有し、該基板内には、少なくとも1つの光源及び少なくとも1つの光検出器が形成され且つ光学的に透明な材料により覆われており、前記基板上に取り付けられ且つ前記少なくとも1つの光源及び少なくとも1つの検出器上に延びている導波管構造を有し、該導波管構造は、前記少なくとも1つの光源から前記導波管構造内に光を案内するための方向転換手段及び前記導波管構造から前記少なくとも1つの検出器に光を案内するための方向転換手段とを備え、導波管構造の一部の上又は内部に形成された感応化学物質を更に有することを特徴とする光学的導波管化学センサ。

IPC (3)：

G01N 21/27 , G01N 21/64 , G01N 21/77

FI (3)：

G01N 21/27 C , G01N 21/64 Z , G01N 21/77 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

ファイバーオプティック化学的検知器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-252703 Applicant：テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド
汚れ検知方法並びに汚れ検知装置及び速度検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-131623 Applicant：オムロン株式会社
分光光度計とその減衰全反射プリズムの製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-235986 Applicant：株式会社日立製作所

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