OTDR測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：志賀正武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994321003
Publication number (International publication number)：1996179386
Application date： Dec. 22, 1994
Publication date： Jul. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】挿入損失を低く抑え、約50MHz以下のシフト周波数が得られ、簡単にシフト周波数の制御を行うことができるOTDR測定装置を提供する。【構成】周波数幅の狭い光を出射する狭線幅光源1と、当該光を連続光と局発光に分岐する光分岐手段2と、高出力パルス光源21と、高出力パルス光源21から出力されるパルス光と前記連続光を合波する光合波手段22と、非線形屈折率を有し前記連続光のみの周波数をシフトさせ、この周波数シフトされた合波光を被測定光ファイバ11の入射端に入射する周波数シフト手段23と、被測定光ファイバ11から出力する後方散乱光と前記局発光とを合波し出射する光合波手段4と、光合波手段4から出射する光を受光し、前記後方散乱光と前記局発光との周波数差に相当するビート信号を出力する受光器6と、ビート信号よりOTDR波形を求めるOTDR処理手段25とを備えたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

光ファイバに周波数がシフトした光を入射し、該光ファイバから出射する後方散乱光からOTDR波形を求めるOTDR測定装置であって、周波数幅の狭い光を出射する狭線幅光源と、当該光を連続光と局発光に分岐する光分岐手段と、高出力パルス光源と、該高出力パルス光源から出力されるパルス光と前記連続光を合波する光合波手段と、非線形屈折率を有し、前記合波光のうち連続光のみの周波数をシフトさせ、この周波数シフトされた合波光を被測定光ファイバの入射端に入射する周波数シフト手段と、該被測定光ファイバから出力する後方散乱光と前記局発光とを合波し出射する光合波手段と、該光合波手段から出射する光を受光し、前記後方散乱光と前記局発光との周波数差に相当するビート信号を出力する受光器と、該ビート信号よりOTDR波形を求めるOTDR処理手段とを備えたことを特徴とするOTDR測定装置。

IPC (2)：

G02F 1/35 , G01M 11/00

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

光パルス試験器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-128852 Applicant：日本電信電話株式会社
特開平1-277220
特開平3-065932

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Cited by examiner (5)

光パルス試験器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-128852 Applicant：日本電信電話株式会社
特開平1-277220
特開平1-277220

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