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J-GLOBAL ID：200903066988915579

炭素同位体分析装置

Inventor： 五十嵐 裕明 ,  森 敏正
Applicant, Patent owner： 日本無線株式会社
Agent (1)： 後藤 洋介 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995121683
Publication number (International publication number)：1996313437
Application date： May. 19, 1995
Publication date： Nov. 29, 1996
Summary：

【要約】【目的】 長期的に安定して正確に炭素同位体比を測定することができる炭素同位体分析装置を提供する。【構成】 本発明の装置は、半導体レーザ装置1と、温度自動制御装置10と、電流自動制御装置11と、試料セル4と、光検出装置5と、光波長ドリフト検出装置12と、光強度自動補正装置13と、同位体比演算装置6とを有する。光波長ドリフト検出装置12は、光検出信号おける試料ガスの安定な2つの炭素同位体の2つのスペクトル吸収強度を検出し基準スペクトル吸収強度に対するドリフトを検出してドリフト検出信号を生成する。温度自動制御装置10は、前記ドリフト検出信号を受けて半導体レーザ装置1の温度を制御する。前記電流自動制御装置11は、前記ドリフト検出信号を受けて半導体レーザ装置1に供給する電流を制御する。

Claim (excerpt)：

半導体レーザ装置と、予め試料ガスを導入され前記半導体レーザ装置からの照射レーザビームを受ける試料セルと、この照射レーザビームが前記試料セルを透過した後の透過レーザビームを受けて光検出信号を生成する光検出装置と、この光検出装置により検出した前記光検出信号から前記透過レーザビームにおける試料ガスの安定な2つの炭素同位体の2つのスペクトル吸収強度を検出しこれらのスペクトル吸収強度の基準スペクトル吸収強度に対するドリフトを検出してドリフト検出信号を生成する光波長ドリフト検出装置と、この光波長ドリフト検出装置からの前記ドリフト検出信号を受けて前記半導体レーザ装置の温度を制御する温度自動制御装置と、前記光波長ドリフト検出装置からの前記ドリフト検出信号を受けて前記半導体レーザ装置に供給する電流を制御する電流自動制御装置と、前記照射レーザビームに対するスペクトル吸収がない場合において得られる光強度または前記光検出装置からの前記光検出信号の光強度を補間演算して求められる光強度で前記光検出信号の強度を正規化することにより補正して補正光検出信号を生成する光強度自動補正装置と、この光強度自動補正装置からの補正光検出信号に基いて前記2つの炭素同位体の比を演算する同位体比演算装置とを有することを特徴とする炭素同位体分析装置。

IPC (3)：

G01N 21/61 ,  G01J 3/42 ,  G01N 21/35

FI (3)：

G01N 21/61 ,  G01J 3/42 U ,  G01N 21/35 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 同位体比分析方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-295610   Applicant：日本無線株式会社
• 特開昭63-009843
  
• 流体検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-286165   Applicant：ホーヤ株式会社
• 特開昭63-182550