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J-GLOBAL ID：200903067169599702

電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置

Inventor：
笹部 孝司

About 笹部 孝司


Applicant, Patent owner：
松下電工株式会社

About 松下電工株式会社


Agent (1)： 西川 惠清 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997295192
Publication number (International publication number)：1999133074
Application date： Oct. 28, 1997
Publication date： May. 21, 1999
Summary：
【要約】【課題】電子回路基板のコモンモード・ノイズを評価するためのコモンモード・インピーダンスの測定方法及びその測定装置を提供する。【解決手段】金属製の冶具3は、一面開口した略箱状の冶具本体4と、冶具本体4の開口を塞ぐ蓋体5とからなり、冶具3内部に配置された誘電体ブロック2上に電子回路基板1が載置される。電子回路基板1の入出力端子間の少なくとも一部は短絡されており、短絡された入出力端子は導電線11及びN型同軸コネクタ10を介して、冶具3の側面に配設された貫通型のN型同軸コネクタ7に接続される。回路定数測定器20は、同軸ケーブル9及びN型同軸コネクタ8を介して、貫通型のN型同軸コネクタ7に接続される。回路定数測定器20は、電子回路基板1に信号を印加して、その反射率を測定することにより、電子回路基板1のグランド30に対するコモンモード・インピーダンスを測定する。
Claim (excerpt)：
被測定回路基板を冶具に取り付け、被測定回路基板の入出力端子の少なくとも一部を短絡し、冶具に設けられた接続部材と被測定回路基板の短絡された入出力端子とを導電線で接続し、接続部材とインピーダンス測定器とを同軸ケーブルで接続し、インピーダンス測定器から同軸ケーブルと接続部材と導電線とを介して被測定回路基板に信号を印加し、その反射率を測定することによってインピーダンスを測定することを特徴とする電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法。
IPC (4)：
G01R 27/02 ,  G01R 27/06 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/30
FI (4)：
G01R 27/02 A ,  G01R 27/06 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/30
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
  • 特開昭63-131073
  • 特開平4-020126
  • 特開平4-093667
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Cited by examiner (7)
  • インピーダンス・メータ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-313898   Applicant：横河・ヒューレット・パッカード株式会社
  • 特開昭63-131073
  • 特開平4-020126
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

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