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J-GLOBAL ID:200903067600766808
高分子化合物の分析方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (4):
藤本 昇
, 薬丸 誠一
, 中谷 寛昭
, 小山 雄一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007277230
Publication number (International publication number):2009103635
Application date: Oct. 25, 2007
Publication date: May. 14, 2009
Summary:
【課題】 高分子化合物の部分構造の特徴を損なうことなく簡便に低分子化でき、かつ、低分子化したその低分子化物の分析により、比較的分子量の大きい高分子化合物であってもその分子構造を同定できる高分子化合物の分析方法を提供することを課題としている。 【解決手段】 高分子化合物を低分子化して質量分析する高分子化合物の分析方法であって、高分子化合物を溶解させた高分子化合物の溶液に超音波を照射する超音波照射工程を実施し、超音波を照射した前記溶液に含まれる低分子化物を質量分析する質量分析工程を実施する高分子化合物の分析方法を提供する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
高分子化合物を低分子化して質量分析する高分子化合物の分析方法であって、高分子化合物を溶解させた高分子化合物の溶液に超音波を照射する超音波照射工程を実施し、超音波を照射した前記溶液に含まれる低分子化物を質量分析する質量分析工程を実施することを特徴とする高分子化合物の分析方法。
IPC (5):
G01N 27/62
, G01N 30/72
, G01N 30/06
, G01N 27/64
, G01N 30/88
FI (9):
G01N27/62 V
, G01N30/72 C
, G01N30/06 A
, G01N30/06 E
, G01N30/06 Z
, G01N27/62 G
, G01N27/62 X
, G01N27/64 B
, G01N30/88 P
F-Term (15):
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041DA05
, 2G041DA16
, 2G041DA20
, 2G041EA03
, 2G041EA04
, 2G041FA09
, 2G041GA03
, 2G041GA05
, 2G041GA08
, 2G041GA12
, 2G041HA01
, 2G041JA02
, 2G041JA08
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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筒形振動発生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-103275
Applicant:エフ・ディ-・ケイ株式会社
Cited by examiner (6)
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Article cited by the Patent:
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