クロストーク検証装置およびクロストーク検証方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：板垣孝夫 , 森本義弘 , 笹原敏司 , 原田洋平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004359263
Publication number (International publication number)：2006171818
Application date： Dec. 13, 2004
Publication date： Jun. 29, 2006
Summary：

【課題】半導体集積回路のレイアウト時に、クロストークの原因となる寄生容量を的確に探し出し、その寄生容量が発生したレイアウト箇所をエラー表示することができるクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法を提供する。【解決手段】設計者がクロストークの影響を分析したいネットを指定するネット指定手段107と、レイアウトパターン101から抽出した寄生容量をデータベース化した寄生容量情報105から、ネット指定手段107によって指定されたネットを接続情報として片側端子にもつ寄生容量を選択する寄生容量選択手段108と、寄生容量選択手段108で選択された寄生容量を1つずつ回路データに付加した回路を生成する回路生成手段109と、回路生成手段109で得た回路を回路シミュレーションする回路シミュレータ111と、その結果を表示するエラー出力手段112とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

半導体集積回路のレイアウトパターンにおける配線間のクロストークを検証するためのクロストーク検証装置であって、前記レイアウトパターンから寄生容量を抽出しデータベース化した寄生容量情報、および集積化対象の回路に前記抽出した寄生容量を付加して第1の寄生容量付き回路を生成するレイアウト回路生成手段と、設計者が前記クロストークの影響について確認したいネットを指定するためのネット指定手段と、前記レイアウト回路生成手段からの寄生容量情報における前記寄生容量のデータベースから、前記ネット指定手段で指定されたネットを接続情報として持つ寄生容量を選択する寄生容量選択手段と、前記寄生容量選択手段で選択された寄生容量を接続情報毎に分類し、前記集積化対象の回路に前記分類毎の寄生容量を付加して第2の寄生容量付き回路を生成する回路生成手段と、前記レイアウト回路生成手段からの第1の寄生容量付き回路と前記回路生成手段からの第2の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする回路シミュレータと、前記回路シミュレータによる前記第1の寄生容量付き回路と前記第2の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果を比較し、その比較結果がエラー状態を示す前記ネットについてエラー信号を出力するエラー出力手段とを備えたことを特徴とするクロストーク検証装置。

IPC (2)：

G06F 17/50 , H01L 21/82

FI (2)：

G06F17/50 666V , H01L21/82 T

F-Term (17)：

5B046AA08 , 5B046BA03 , 5B046BA04 , 5B046JA04 , 5B046KA05 , 5F064CC02 , 5F064CC22 , 5F064DD14 , 5F064EE43 , 5F064EE45 , 5F064EE46 , 5F064HH06 , 5F064HH07 , 5F064HH09 , 5F064HH10 , 5F064HH14 , 5F064HH17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

クロストーク検証装置及びクロストーク検証方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-389179 Applicant：三菱電機株式会社

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