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J-GLOBAL ID：200903067856806840

光学特性測定装置及び眼底像観察装置

Inventor： 山口 達夫 ,  三橋 俊文
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 橋爪 健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004183389
Publication number (International publication number)：2006006362
Application date： Jun. 22, 2004
Publication date： Jan. 12, 2006
Summary：

【課題】 瞳の位置の移動を補正する。【解決手段】 前眼部観察系4は、前眼部照明用光源45により照明された被検眼前眼部からの反射光を受光する。移動量演算部14-2は、前眼部観察系4の受光信号に基づく前眼像から被検眼の変位を測定する。波面補正素子71は、反射又は透過する光束の波面を補正する。波面測定部10は、波面測定のための光束を被検眼眼底に投影し、被検眼眼底からの反射光束を波面補正素子71を介して受光する。演算装置14-1は、測定された被検眼の変位と、波面測定部10による受光信号とに基づき、波面収差を測定する。波面補正素子制御装置15は、測定された波面収差に基づき、波面補正のための制御信号を形成し、波面補正素子71に出力して波面を補正させる。モーター付きステージ73は、測定された被検眼の変位に応じて波面補正素子71を、被検眼からの反射光束の光軸に対して横切る方向に移動させる。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被検眼前眼部を照明するための前眼部照明光源と、 照明された被検眼前眼部からの反射光を受光し、被検眼の前眼像を形成するための前眼部観察部と、 形成された前眼像に基づき、光軸と被検眼とのずれを示す被検眼の変位を測定する移動量演算部と、 与えられる制御信号に従い、反射又は透過する光束の波面を補正するための波面補正素子と、 波面測定のための光束を被検眼眼底に投影し、被検眼眼底からの反射光束を上記波面補正素子を介して受光する波面測定部と、 上記移動量演算部により測定された被検眼の変位と、上記波面測定部による受光信号とに基づき、被検眼の波面収差を測定する収差演算部と、 上記移動量演算部で測定された被検眼の変位に応じて、上記波面補正素子を、被検眼眼底からの反射光束の光軸に対して横切る方向又は上記波面補正素子の法線に垂直な平面方向に移動させるためのステージと、 上記収差演算部により測定された波面収差に基づき、収差が小さくなるように波面補正のための制御信号を形成し、形成された制御信号を上記波面補正素子に出力して波面を補正させる波面補正素子制御装置と を備え、 上記収差演算部は、波面補正のための制御信号に応じた上記波面補正素子の補正量と、上記移動量演算部で測定された被検眼の変位と、上記波面補正素子により波面が補正され上記波面測定部により受光された受光信号とに基づき、被検眼の光学特性を測定する光学特性測定装置。

IPC (2)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/12

FI (2)：

A61B3/10 Z ,  A61B3/12 E

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 角膜内皮細胞観察撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-022447   Applicant：株式会社トプコン
• 眼科装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-253070   Applicant：株式会社トプコン