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J-GLOBAL ID:200903067894192928
静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
高橋 省吾
, 稲葉 忠彦
, 村上 加奈子
, 中鶴 一隆
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008181240
Publication number (International publication number):2009103683
Application date: Jul. 11, 2008
Publication date: May. 14, 2009
Summary:
【課題】外部から印加した電圧値と静電気帯電量との関係を明確にする静電気帯電試験装置を得る。【解決手段】絶縁体4と、絶縁体4に接する金属板3と、金属板3に対向するように絶縁体4の中に埋め込まれ、絶縁体4から外方に延長された配線5と、配線5の一端に接続され、電子機器6を接続できる絶縁体ソケット7とを備え、金属板3へ所定の電圧を印加することによって金属板3に対向する配線5に誘導された帯電量を、絶縁体ソケットを介して測定する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
絶縁体と、前記絶縁体に接する金属板と、前記金属板に対向するように前記絶縁体の中に埋め込まれ、前記絶縁体から外方に延長された配線と、前記配線の一端に接続され、電子機器を接続できる絶縁体ソケットとを備え、
前記金属板へ所定の電圧を印加することによって前記金属板に対向する配線に誘導される帯電量を測定することを特徴とする静電気帯電試験装置。
IPC (2):
FI (2):
G01R29/12 G
, G01R31/26 Z
F-Term (5):
2G003AB01
, 2G003AC08
, 2G003AH04
, 2G003AH05
, 2G003AH07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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静電気破壊耐量試験装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-211907
Applicant:山形日本電気株式会社
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