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J-GLOBAL ID：200903068025893530
X-Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニットに備えるラインプローブ
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
柳沢 大作
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995116546
Publication number (International publication number)：1996285888
Application date： Apr. 17, 1995
Publication date： Nov. 01, 1996
Summary：
【要約】【目的】 リードピッチの異なる多種類のICに対応し易くして、検査をスピード化する。【構成】 絶縁ベース12に多数のピンプローブ14を互いに離して先端18が直線状に並ぶように備え付け、それ等の各ピンプローブ14の先端18の幅と隣接する両ピンプローブ14の先端18の中心間距離をリードピッチの異なる多種類のICに対し、いずれかのピンプローブ14の先端18が各ICの1ブロックに属する少なくとも一部の連続的に並ぶ全てのリード又はそれ等の各リードに対応する全てのパターンと接触可能となるように決定し、各リード又は各パターンに対するピンプローブ14の接触本数を最多で2本にする。
Claim (excerpt)：
X-Y方式により可動するZ軸ユニットにラインプローブを設置し、そのZ軸ユニットでラインプローブの絶縁ベースをZ軸方向に可動可能に支持し、その絶縁ベースに多数のピンプローブを互いに離して先端が直線状に並ぶように備え付けてなるX-Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニットに備えるラインプローブにおいて、上記各ピンプローブの先端の幅と隣接する両ピンプローブの先端の中心間距離をリードピッチの異なる多種類のICに対し、いずれかのピンプローブの先端が各ICの1ブロックに属する少なくとも一部の連続的に並ぶ全てのリード又はそれ等の各リードに対応する全てのパターンと接触可能となるように決定し、各リード又は各パターンに対するピンプローブの接触本数を最多で2本にすることを特徴とするX-Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニットに備えるラインプローブ。
IPC (2)：
FI (2)：
G01R 1/073 D
, G01R 31/28 K
Cited by examiner (9)
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