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J-GLOBAL ID：200903068271074211

X線分析用試料ホルダおよびX線分析装置

Inventor： 山田 康治郎 ,  戸田 勝久 ,  青柳 光一
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999030265
Publication number (International publication number)：2000230912
Application date： Feb. 08, 1999
Publication date： Aug. 22, 2000
Summary：

【要約】【目的】 簡便に微少量の試料を保持することができるX線分析用試料ホルダを提供する。【構成】 X線分析装置によって分析される試料S1を保持するためのX線分析用試料ホルダ8。この試料ホルダ8に着脱自在に取り付けられる試料支持具1は、サンプリングカップ(有底筒形状の本体)3と、サンプリングカップ3の底壁3aに立設され、先端面2aで試料S1を支持する1つ以上の棒状の支持部材2と、サンプリングカップ3の開口部3dを覆い、前記試料S1を前記支持部材2との間で支持するフィルム4とを備えている。

Claim (excerpt)：

X線分析装置によって分析される試料を保持するためのX線分析用試料ホルダであって、試料を支持する試料支持具が試料ホルダに着脱自在に取り付けられており、前記試料支持具は、有底筒形状の本体と、該本体の底壁に立設され、先端面で試料を支持する1つ以上の棒状の支持部材と、前記本体の開口部を覆い、前記試料を前記支持部材との間で支持するフィルムを備えているX線分析用試料ホルダ。

IPC (2)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/28

FI (2)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/28 W

F-Term (19)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001GA01 ,  2G001JA12 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001LA03 ,  2G001MA04 ,  2G001PA01 ,  2G001PA11 ,  2G001PA13 ,  2G001PA15 ,  2G001QA02 ,  2G001QA10 ,  2G001RA10 ,  2G001SA01 ,  2G001SA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開平2-035343
  
• 蛍光X線分析用の試料ホルダ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-150726   Applicant：理学電機工業株式会社