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J-GLOBAL ID：200903068341338963

光量式多段測距装置

Inventor： 河野 孝典 ,  黒須 富男
Applicant, Patent owner： 日本電産コパル株式会社
Agent (1)： 鈴木 晴敏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001400178
Publication number (International publication number)：2003195155
Application date： Dec. 28, 2001
Publication date： Jul. 09, 2003
Summary：

【要約】【課題】 回路構成を複雑にすることなく、光量式測距装置を多段化する。【解決手段】 光量式多段測距装置は、対象物0に対して光束を投光する投光部1と、対象物0から反射して戻って来る光束を受光し、その光量に応じた検出信号を出力する受光部2と、検出信号に基づいて対象物0までの距離を多段的に測定する回路部3とからなる。回路部3は、該光量に応じた検出信号のレベルを所定の参照レベルと比較して、該光量を判定する光量判定回路4と、あらかじめ距離に応じて多段に設定した複数の参照レベルを切り換え可能に供給する参照レベル設定回路5と、参照レベル設定回路5を制御して一回の測定につき参照レベルを切り換えながら複数回の判定を行ない、その結果に基づいて対象物0までの距離を特定する制御回路6とを含む。

Claim (excerpt)：

対象物に対して光束を投光する投光部と、該対象物から反射して戻って来る光束を受光し、その光量に応じた検出信号を出力する受光部と、該検出信号に基づいて該対象物までの距離を2値判定する回路部とからなる光量式測距装置において、前記回路部は、該光量に応じた検出信号のレベルを所定の参照レベルと比較して、該光量を判定する光量判定回路と、あらかじめ距離に応じて多段に設定した複数の参照レベルを切り換え可能に供給する参照レベル設定回路と、該参照レベル設定回路を制御して一回の測定につき参照レベルを切り換えながら複数回の判定を行ない、その結果に基づいて対象物までの距離を特定する制御回路とを含むことを特徴とする光量式多段測距装置。

IPC (4)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (4)：

G01C 3/06 Z ,  G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A ,  G02B 7/11 B

F-Term (12)：

2F112AD03 ,  2F112BA10 ,  2F112BA11 ,  2F112CA02 ,  2F112FA08 ,  2F112FA12 ,  2F112FA45 ,  2H011BA51 ,  2H011BB03 ,  2H051BB27 ,  2H051CE04 ,  2H051DB02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-024229
  
• 測距装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-065352   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特開昭60-080814