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J-GLOBAL ID：200903068712287623

超音波による管の探傷方法及び超音波探傷器

Inventor：
大倉 伸介

About 大倉 伸介

, 
鈴木 力雄

About 鈴木 力雄


Applicant, Patent owner：
日本工業検査株式会社

About 日本工業検査株式会社


Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999234202
Publication number (International publication number)：2001056318
Application date： Aug. 20, 1999
Publication date： Feb. 27, 2001
Summary：
【要約】【課題】 狭い探触子の移動範囲で管の全周にわったて管体の探傷を行うことができる超音波探傷法及び探傷器を提供する。【解決手段】 探傷器20は、管体表面を管軸方向に移動可な枠体29と、送信探触子21と受信探触子22の周方向の位置を調節する周方向位置調整機構24と、該枠体に支持され、管壁に向けて超音波を出射する送信探触子21と管壁を伝達して透過した超音波ビームを受信する受信探触子22を支持する回転可能に支持された周方向角度調整機構25と、該支持体を管軸に対して直交する方向に所定範囲移動させる周方向移動機構26とを備えている。
Claim (excerpt)：
管体の壁部に超音波ビームを出射し、管体を周回して伝達した透過ビームを受信して管体の損傷を検査する超音波探傷方法において、超音波ビームを管の周方向に対し所定角度だけ傾斜して入射させて超音波ビームを螺旋状に伝達させ、超音波の受信位置を入射位置より管軸方向にずらした位置て受信するようにした超音波探傷方法。
F-Term (12)：
2G047AB01 ,  2G047BA01 ,  2G047BA02 ,  2G047BB02 ,  2G047BC07 ,  2G047BC11 ,  2G047EA08 ,  2G047EA10 ,  2G047EA13 ,  2G047GA06 ,  2G047GA19 ,  2G047GJ02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 超音波センサ、探傷検査装置及び方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-006479   Applicant：日本非破壊検査株式会社, 三菱化学株式会社
  • 特公昭34-001700
  • 特公昭34-001700
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