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J-GLOBAL ID：200903068775341288

立体形状検出装置およびその方法

Inventor： 野口 稔 ,  見坊 行雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992347684
Publication number (International publication number)：1994201349
Application date： Dec. 28, 1992
Publication date： Jul. 19, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】立体形状の検出装置に関し、特に検出対象が急峻なエッヂを有している場合や逆に検出対象の表面テクスチャのコントラストが低い場合であっても、検出対象の立体形状を検出することにある。【構成】光源101、スリツト102、ハーフミラー103、照明レンズ104、拡散板106より構成される照明系100、ホ物レンズ201、リレーレンズ202、結像レンズ203、検出器204、空間フィルター205、空間フィルター制御系206倍率可変機構208、焦点機構209より構成される検出光学系200、平滑回路301、メモリ302、303、304、時間微分回路305、空間微分回路306、速度検出回路307、初速度検出回路308、隠線処理回路309、積分回路310、速度メモリ311より構成される信号処理系300より構成される。

Claim (excerpt)：

立体形状の対象物から得られる画像を結像光学系により結像して光電変換手段で画像信号に変換する検出光学系と、該検出光学系の光電変換手段で検出される画像に対して検出条件を変化させる検出条件変化手段と、該検出条件変化手段により検出条件を変化させて前記検出光学系の光電変換手段で検出される画像信号から画像上の点の速度を算出する速度算出手段と、該速度算出手段から算出された速度変化から対象物体の立体形状を検出する立体形状検出手段とを備えたことを特徴とする立体形状検出装置。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 460

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平4-169804
  
• 表面形状検出装置およびその方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-347686   Applicant：株式会社日立製作所