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J-GLOBAL ID：200903079404054725

表面形状検出装置およびその方法

Inventor： 野口 稔 ,  中川 泰夫
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992347686
Publication number (International publication number)：1994201337
Application date： Dec. 28, 1992
Publication date： Jul. 19, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】立体形状の検出装置に関し、特に検出対象が急峻なエッヂを有している場合や逆に検出対象の表面テクスチャのコントラストが低い場合であっても、検出対象の立体形状を検出することにある。【構成】表面にテックスチャを持たない鏡面あるいは滑らかな拡散面を有する対象物1、表面テクスチャのコントラストが薄い対象物1、表面テクスチャの形状やコントラストが変化する表面を有する対象物1の表面形状を検出するために、対象物1に対してテクスチャパターン403を投影する照明手段400と、投影したテクスチャパターンを検出する検出手段500と、テクスチャパターンを投影する際あるいは検出する際に焦点位置を変化させる手段、焦点位置を変化させながら複数の画像を検出、記憶する手段601、検出、記憶した信号を処理し目標の立体形状を算出する手段602-606より構成される。

Claim (excerpt)：

対象物に対してテクスチャパターンを投影する照明手段と、該照明手段で投影したテクスチャパターンを検出して光電変換手段により画像信号に変換する検出手段と、焦点位置を変化させるように制御する焦点位置制御手段と、該焦点位置制御手段により焦点位置を変化させながら前記検出手段で複数のテクスチャパターンの画像信号を検出して記憶し、該記憶した複数のテクスチャパターンの画像信号を処理して立体形状を算出する立体形状算出手段とを備えたことを特徴とする表面形状検出装置。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/64

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-063507
  
• 立体形状検出装置およびその方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-347684   Applicant：株式会社日立製作所