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J-GLOBAL ID：200903068875572732

雑音抑圧処理装置および雑音抑圧処理方法

Inventor：
金澤 博史

About 金澤 博史

, 
赤嶺 政巳

About 赤嶺 政巳


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998217519
Publication number (International publication number)：2000047699
Application date： Jul. 31, 1998
Publication date： Feb. 18, 2000
Summary：
【要約】【課題】計算量を大幅に削減できる雑音抑圧処理を可能にすること。【解決手段】話者音声を異なる複数位置で検出する手段11と、この受音位置別音声信号毎に周波数分析して各チャンネル(ch)別の周波数成分を得る分析手段12と、この各chの周波数成分について所望方向外の感度が低くなるように計算したフィルタ(F)係数によるフィルタ(F)処理により話者方向の雑音を抑圧し、目的音声成分を得る第1ビームフォーマ処理手段(B1)13と、分析手段にて得た複数chの周波数成分について所望方向外を低感度化するF処理により話者音声を抑圧し、雑音成分を得る第2ビームフォーマ処理手段(B2)16と、B1のF係数から雑音方向を推定し、B2のF係数から目的音方向を推定する推定手段17,18と、B1において入力対象となる目的音の到来方向である第1入力方向を、推定手段の推定目的音方向に基づき修正し、B2において入力対象とする雑音の到来方向である第2入力方向を、推定手段の推定雑音方向に基づき修正する修正手段14,15を具備する。
Claim (excerpt)：
話者の発声した音声を2箇所以上の異なった位置で受音する音声入力手段と、前記受音位置に対応する音声信号のチャネルごとに周波数分析を行って複数チャネルの周波数成分を出力する周波数分析手段と、前記複数チャネルの周波数成分を用いて適応フィルタ処理により目的の音声以外の到来雑音の抑圧処理を行って目的音声を出力する第1のビームフォーマ処理手段と、前記複数チャネルの周波数成分を用いて適応フィルタ処理により目的の音声の抑圧処理を行って雑音を出力する第2のビームフォーマ処理手段と、前記第1のビームフォーマ処理手段で計算されるフィルタ係数から雑音方向を推定する雑音方向推定手段と、前記第2のビームフォーマ処理手段で計算されるフィルタ係数から目的音方向を推定する目的音方向推定手段と、前記第1のビームフォーマにおいて入力対象となる目的音の到来方向である第1の入力方向を、前記目的音方向推定手段で推定された目的音方向に基づいて逐次修正する目的音方向修正手段と、前記第2のビームフォーマにおいて入力対象とする雑音の到来方向である第2の入力方向を、前記雑音方向推定手段で推定された雑音方向に基づいて逐次修正する雑音方向修正手段とを具備し、逐次、音声周波数成分と雑音周波数成分とを別々に出力することを特徴とする雑音抑圧装置。
IPC (5)：
G10L 21/02 ,  G10L 19/00 ,  G01S 3/808 ,  G01S 3/86 ,  H03H 21/00
FI (6)：
G10L 9/00 F ,  G10L 9/00 H ,  G01S 3/808 ,  G01S 3/86 ,  G10L 3/02 301 E ,  H03H 21/00
F-Term (25)：
5D015CC02 ,  5D015CC14 ,  5D015DD02 ,  5D015EE05 ,  5J023DA05 ,  5J023DB02 ,  5J023DC06 ,  5J023DC08 ,  5J023DD03 ,  5J083AA05 ,  5J083AB10 ,  5J083AC07 ,  5J083AC15 ,  5J083AC18 ,  5J083AC30 ,  5J083AD15 ,  5J083BC01 ,  5J083BE12 ,  5J083BE14 ,  5J083BE18 ,  5J083BE43 ,  5J083BE53 ,  5J083BE58 ,  5J083CA10 ,  5J083CA12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 特開昭63-004710
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

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