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J-GLOBAL ID：200903068982597489

CCD撮像素子の画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法

Inventor：
益金 和行

About 益金 和行


Applicant, Patent owner：
富士フイルムマイクロデバイス株式会社

About 富士フイルムマイクロデバイス株式会社

, 
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (1)： 峯岸 武司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998264151
Publication number (International publication number)：2000101925
Application date： Sep. 18, 1998
Publication date： Apr. 07, 2000
Summary：
【要約】【課題】温度白キズによる画素欠陥を補正する。【解決手段】CCD撮像素子3において温度白キズを生じさせる欠陥画素の位置を示す位置データが、ルックアップテーブルLUTに記憶されている。この位置データは、撮影時の環境温度とシャッター速度に応じて温度白キズを生じさせる欠陥画素の位置を示している。欠陥補正回路5が、撮影時にCCD撮像素子3から読み出される画素信号Pix中の温度白キズに該当する欠陥画素信号を、その撮影時の実際の環境温度とシャッター速度に対応する上記の位置データに基づいて特定し、その特定された欠陥画素信号について欠陥補正を行う。これにより、温度又はシャッター速度に依存して動的に変化する温度白キズの発生特性に合わせた欠陥補正が行われる。
Claim (excerpt)：
CCD撮像素子の温度白キズを補正するCCD撮像素子の画素欠陥補正装置において、温度白キズを生じさせる欠陥画素を環境温度とシャッター速度に基づいて特定することにより得られた補正情報を予め記憶する記憶手段と、撮影時に前記CCD撮像素子から読み出される画素信号中の温度白キズに該当する欠陥画素信号を、前記撮影時の実際の環境温度とシャッター速度に対応する前記記憶手段中の前記補正情報に基づいて特定し、前記特定された欠陥画素信号について欠陥補正を行う欠陥補正手段と、を備えることを特徴とするCCD撮像素子の画素欠陥補正装置。
IPC (2)：
H04N 5/335 ,  H04N 1/40
FI (2)：
H04N 5/335 P ,  H04N 1/40 101 Z
F-Term (18)：
5C024AA01 ,  5C024CA05 ,  5C024CA09 ,  5C024EA01 ,  5C024FA01 ,  5C024FA09 ,  5C024FA11 ,  5C024GA11 ,  5C024HA24 ,  5C024HA25 ,  5C077LL02 ,  5C077LL13 ,  5C077MM03 ,  5C077PP05 ,  5C077PP43 ,  5C077PP77 ,  5C077PQ08 ,  5C077PQ23
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
  • 電子的撮像装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-268835   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 電子カメラ、画素信号補正方法及び記録媒体
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-075126   Applicant：コニカ株式会社
  • 特開昭62-122469
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Cited by examiner (6)
  • 電子的撮像装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-268835   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 電子カメラ、画素信号補正方法及び記録媒体
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-075126   Applicant：コニカ株式会社
  • 特開昭62-122469
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