表面状態制御装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：稲本義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994055427
Publication number (International publication number)：1995260295
Application date： Mar. 25, 1994
Publication date： Oct. 13, 1995
Summary：

【要約】【目的】被検知物体の表面の異物を、外乱光に影響されることなく、正確かつ確実に検知し、除去する。【構成】 LED3より出射された光を、被検知物体2に対して入射角がブリュースタ角の近傍になるように入射させる。ガラスなどの透明体よりなる被検知物体2は、その表面に水滴、霜などの異物が付着していない状態においては、S偏光成分のみを反射する。偏光ビームスプリッタ4は、S偏光成分を反射し、受光素子5に入射させる。被検知物体2の表面に水滴、霜などの異物が付着したとき、被検知物体2が反射する光はS偏光成分だけでなく、P偏光成分も含むことになる。偏光ビームスプリッタ4は、P偏光成分を透過し、受光素子6に入射させる。受光素子5と6の出力の比から、被検知物体2の表面の水滴、霜などの付着状態を判別することができる。

Claim (excerpt)：

被検知物体に照射する光を発生する発生手段と、前記被検知物体を経た光から、異なる偏光成分を分離する分離手段と、前記分離手段により分離された異なる偏光成分を受光する受光手段と、前記受光手段の出力から前記被検知物体の表面状態を検知する検知手段と、前記検知手段の検知結果に対応して、前記被検知物体の表面状態を制御する制御手段とを備えることを特徴とする表面状態制御装置。

IPC (4)：

F25B 47/02 570 , F24F 11/02 103 , G01N 21/21 , G01N 21/47

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (17)

特開平3-025350
特開平4-252942
特開昭64-003543

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