Pat

J-GLOBAL ID：200903069758787759

コード化された水準測量捍の傾斜角を決定する方法

Inventor： ベルンハルト ブラウネッカー ,  ベルンハルト ゲヒター
Applicant, Patent owner： ライカ アクチエンゲゼルシャフト
Agent (1)： 伊藤 武久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995280905
Publication number (International publication number)：1996210854
Application date： Oct. 27, 1995
Publication date： Aug. 20, 1996
Summary：

【要約】【課題】水準測量捍の傾斜角を決定できる方法を提供する。【解決手段】確定された理想的なコード模様延在態様と実際に測定されたコード模様延在態様との差を形成することにより、視野内にある個々のコードエレメントのゆがみ(VZ)を決定し、且つこのゆがみ(VZ)からすべてのコードエレメントのゆがみ関数〔VZ(lCE)〕を決定して、演算ユニット(9)で処理する。結像光学系(5)と、コード模様の基点(2)にたいする結像光学系(5)の高さ(h0)及び水準測量捍(1)までの距離(S0)並びに水準測量捍(1)の回転点(3)の位置と、結像光学系(5)の視野内のコードエレメントの位置(lCE)とから得られる幾何学的・光学的関係を用いて、コード模様のゆがみ関数〔VZ(lCE)〕から水準測量捍(1)の傾斜角(α)を検出する。

Claim (excerpt)：

結像光学系(5)と、位置を検出する光電検出器(8)と、演算ユニット(9)とを備えた電子水準器を用いて、コード化された水準測量捍(1)の測定方向における傾斜角(α)を決定する方法であって、結像光学系(5)の視野内にあって光電検出器(8)によって測定されるコード模様に関係付けることができるような水準測量捍(1)上の位置を水準測定により決定し、これにより、水準測量捍(1)から既知の理想的な観察範囲内のコード模様延在態様が確定され与えられている前記方法において、確定された理想的なコード模様延在態様と実際に測定されたコード模様延在態様との差を形成することにより、視野内にある個々のコードエレメントのゆがみ(VZ)を決定し、且つこのゆがみ(VZ)からすべてのコードエレメントのゆがみ関数〔VZ(lCE)〕を決定して、演算ユニット(9)で処理すること、結像光学系(5)と、コード模様の基点(2)にたいする結像光学系(5)の高さ(h0)及び水準測量捍(1)までの距離(S0)並びに水準測量捍(1)の回転点(3)の位置と、結像光学系(5)の視野内のコードエレメントの位置(lCE)とから得られる幾何学的・光学的関係を用いて、コード模様のゆがみ関数〔VZ(lCE)〕から水準測量捍(1)の傾斜角(α)を検出することを特徴とする方法。

IPC (3)：

G01C 15/00 ,  G01C 9/06 ,  G01C 15/06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 電子レベルと電子レベル用標尺
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-155982   Applicant：株式会社トプコン
• 電子レベル
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-353346   Applicant：株式会社トプコン