撮像装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：堀城之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999067202
Publication number (International publication number)：2000258154
Application date： Mar. 12, 1999
Publication date： Sep. 22, 2000
Summary：

【要約】【課題】被写体以外の地表面物体や大気の反射や輻射特性等に影響されない撮像装置を提供する。【解決手段】太陽光スペクトル検出手段によって天空の太陽光スペクトルを検出し、被写体光撮像手段によって被写体光から画像信号を検出し、第1の大気伝播減衰計測手段は大気中の散乱光によって大気伝播の減衰量を計測し、第2の大気伝播減衰計測手段は天空の雲による反射光によって大気伝播の減衰量を計測し、補正演算手段が太陽光スペクトルと第1の大気伝播減衰計測手段によって計測した大気伝播の減衰量と第2の大気伝播減衰計測手段によって計測した大気伝播の減衰量とに基づいて画像信号を補正演算する

Claim (excerpt)：

天空の太陽光スペクトル(13)を検出する太陽光スペクトル検出手段と、被写体光(2)から画像信号を検出する被写体光撮像手段と、大気中の散乱光(36)によって大気伝播の減衰量を計測する第1の大気伝播減衰計測手段と、天空の雲による反射光(31)によって大気伝播の減衰量を計測する第2の大気伝播減衰計測手段と、前記太陽光スペクトルと前記第1の大気伝播減衰計測手段によって計測した前記大気伝播の減衰量と前記第2の大気伝播減衰計測手段によって計測した前記大気伝播の減衰量とに基づいて前記画像信号を補正演算する補正演算手段(6、7、8、17、35、26、27、28、29、32、33)とを具備することを特徴とする撮像装置。

IPC (5)：

G01C 3/06 , G01J 3/02 , G01J 3/28 , H04N 5/30 , H04N 5/335

FI (6)：

G01C 3/06 , G01J 3/02 C , G01J 3/28 , H04N 5/30 , H04N 5/335 Q , H04N 5/335 V

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

赤外模擬画像発生方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-098552 Applicant：三菱電機株式会社

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