Pat
J-GLOBAL ID:200903070106402500

光計測方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993266062
Publication number (International publication number):1995120384
Application date: Oct. 25, 1993
Publication date: May. 12, 1995
Summary:
【要約】【目的】 小型化可能な光による生体機能断層像計測方法および装置を提供する。【構成】 波長領域500から600nm内で異なる3波長と、波長領域750から850nm内で異なる3波長の合計6波長からなる光源部1からの放射光を、波長ごとに順次照射用光ファイバ2で被検体3に照射する。被検体の光照射位置から、20から40mm内の任意の距離を隔て配置された検出用光ファイバ4を介して、被検体からの反射光が光検出部5で検出され、検出結果は反射光量記憶部6で記憶される。次に光源部1からの放射光の波長を二番目の波長に切り替え、同様に反射光量を計測する。全ての波長に対する反射光量を計測した後、各波長の反射光量は演算部7で断層像として処理され、表示部8で表示される。【効果】 生体表面から内部にかけて生体機能を順次簡便なデータ処理で決定できる。
Claim (excerpt):
複数の異なる波長領域からなり各々の波長領域内でさらに複数の異なる波長から構成される光を被検体に照射し、前記被検体から反射される光を検出し前記被検体表面部分の情報を一つの波長領域の反射光から決定し、前記情報を用いて前記被検体の内部の深い部分の情報を他の波長領域の反射光から順次決定し、前記被検体の情報を深さ方向の断層像として計測することを特徴とする光計測方法。
IPC (3):
G01N 21/49 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
Show all
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page