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J-GLOBAL ID：200903070352513990

静磁場不均一分布測定方法、静磁場均一化方法、MRデータ収集方法およびMRI装置

Inventor：
浅野 健二

About 浅野 健二

, 
小杉 進

About 小杉 進


Applicant, Patent owner：
ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー

About ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー


Agent (1)： 有近 紳志郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002046828
Publication number (International publication number)：2003245261
Application date： Feb. 22, 2002
Publication date： Sep. 02, 2003
Summary：
【要約】【課題】勾配パルスに起因する残留磁化の影響を十分に低減する。【解決手段】位相リワインド勾配の強度を位相エンコード勾配の強度の半分または略半分とする。スライス・リワインド勾配の強度を、スライス・エンコード勾配の強度の半分または略半分とする。スライス選択勾配の強度と等しい強度を持つキラー勾配をスライス軸に印加する。リードアウト勾配の強度と等しい強度を持つキラー勾配をリードアウト勾配に続けて周波数軸に印加する。【効果】勾配パルスに起因する残留磁化の影響による画質劣化を防止できる。
Claim (excerpt)：
スライス軸に印加するキラー勾配の強度をスライス選択勾配の強度と等しくし、スライス・リフェーズ勾配の強度をスライス選択勾配の強度の半分または略半分とし、位相リワインド勾配の強度を位相エンコード勾配の強度の半分または略半分とし、周波数デフェーズ勾配の強度をリードアウト勾配の強度の2倍または略2倍とした第1のグラジエント・エコー・シーケンスにより収束させたエコーから第1のMRデータを収集し、前記グラジエント・エコー・シーケンスよりエコー時間をδtずらした第2のグラジエント・エコー・シーケンスにより収束させたエコーから第2のMRデータを収集し、前記MRデータ間の位相差を基に静磁場の不均一分布を測定することを特徴とする静磁場不均一分布測定方法。
IPC (2)：
A61B 5/055 ,  G01R 33/48
FI (2)：
A61B 5/05 341 ,  G01N 24/08 510 Y
F-Term (11)：
4C096AA20 ,  4C096AB32 ,  4C096AD02 ,  4C096AD06 ,  4C096AD09 ,  4C096BA06 ,  4C096CA05 ,  4C096CA07 ,  4C096CA16 ,  4C096CA18 ,  4C096CA29
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
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