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J-GLOBAL ID:200903070494203689

鋳巣計測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大川 宏
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004214345
Publication number (International publication number):2005351875
Application date: Jul. 22, 2004
Publication date: Dec. 22, 2005
Summary:
【課題】本発明は、小さな鋳巣も検出でき、かつ鋳巣の大きさに関係なく高精度で形状計測できる鋳巣計測方法を提供することを課題とする。【解決手段】本願発明の鋳巣計測方法は、検査対象の鋳造品をX線CTで実測し該鋳造品の内部欠陥である鋳巣を計測する鋳巣計測方法において、鋳造品をX線CTで実測し、大きさの異なる前記鋳巣を画像フィルタを用いることで単一の輝度値を閾値として2値化処理することを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
検査対象の鋳造品をX線CTで実測し該鋳造品の内部欠陥である鋳巣を計測する鋳巣計測方法において、 前記鋳造品をX線CTで実測し、大きさの異なる前記鋳巣を画像フィルタを用いることで単一の輝度値を閾値として2値化処理することを特徴とする鋳巣計測方法。
IPC (1):
G01N23/04
FI (1):
G01N23/04
F-Term (10):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001LA02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (11)
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Cited by examiner (8)
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