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J-GLOBAL ID：200903070535222340

電子機器用試験箱

Inventor：
長嶋 道夫

About 長嶋 道夫

, 
内田 勝也

About 内田 勝也

, 
山本 克史

About 山本 克史


Applicant, Patent owner：
日本軽金属株式会社

About 日本軽金属株式会社


Agent (3)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫 ,  町田 能章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007266547
Publication number (International publication number)：2008268173
Application date： Oct. 12, 2007
Publication date： Nov. 06, 2008
Summary：
【課題】ガラス板にITO膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にITO膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供する。【解決手段】電子機器Pが内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体10と、当該試験箱本体10の一部を構成する扉12に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板21が設けられた窓20と、を備える電子機器用試験箱1であって、試験箱本体10は、その内周面に取り付けられた電波吸収体30と、当該電波吸収体30の表面に固定された明色の絶縁層(樹脂膜40)と、をさらに備えることを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体と、 当該試験箱本体に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板が設けられた窓と、を備える電子機器用試験箱であって、 前記試験箱本体は、その内周面に取り付けられた電波吸収体と、当該電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層と、をさらに備えることを特徴とする電子機器用試験箱。
IPC (3)：
G01R 31/00 ,  G01R 29/10 ,  H05K 9/00
FI (3)：
G01R31/00 ,  G01R29/10 E ,  H05K9/00 N
F-Term (16)：
2G036AA19 ,  2G036AA27 ,  2G036AA28 ,  2G036BA14 ,  2G036BA15 ,  2G036CA09 ,  2G036CA12 ,  5E321AA05 ,  5E321AA42 ,  5E321BB23 ,  5E321BB44 ,  5E321BB53 ,  5E321CC22 ,  5E321GG05 ,  5E321GG11 ,  5E321GH01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
  • 電子機器用試験箱
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-148890   Applicant：日本軽金属株式会社
  • 電波暗室
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-325824   Applicant：ティーディーケイ株式会社
  • 電磁遮蔽室の照明装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-244153   Applicant：株式会社フジタ
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Cited by examiner (3)
  • 電波暗室
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-325824   Applicant：ティーディーケイ株式会社
  • 電磁遮蔽室の照明装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-244153   Applicant：株式会社フジタ
  • 電波暗室
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-042519   Applicant：サンテクノス株式会社

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