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J-GLOBAL ID:200903070612875883
系列にもとづく位置決め技法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
狩野 彰
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004509449
Publication number (International publication number):2005528621
Application date: May. 27, 2003
Publication date: Sep. 22, 2005
Summary:
目標装置の位置が位置評価モジュール(LEM)によって評価される。該モジュールは、各サンプル点がサンプル位置と該サンプル点における信号値の予測分布とから成る、複数のサンプル点に関する確率モデル(PM)を含む。位置評価モジュール(LEM)は、信号値の観測値on(n=1,2,3...)の系列(OS)を作成する。各観測値は目標装置の経路に沿うそれぞれの位置qnに対応する。観測値の系列とそれぞれの位置とが間接マルコフモデルを構成する。このモジュールは、確率モデル(PM)と前記観測値の系列とにもとづいて目標装置の位置qnを評価し、このとき、前記観測値の系列は一つ以上の未来の観測値on+mを含み、ここでmは正の整数である。言い換えると、目標装置の位置が、少なくとも一部はその未来に関する知識にもとづいて、評価される。
Claim (excerpt):
目標装置(T)の位置を評価する方法であって、
各サンプル点がサンプル位置と該サンプル点における信号値の予測分布とから成る、複数のサンプル点に関する確率モデル(PM)を維持し、
各観測値が目標装置の経路に沿うそれぞれの位置qnに対応する、信号値の観測値on(n=1....N)の系列(OS)を作成し、このとき、前記観測値の系列とそれぞれの位置とが間接マルコフモデルを構成する、
ことから成る方法において、
確率モデル(PM)と前記観測値の系列とにもとづいて目標装置の位置qtを評価し、このとき、前記観測値の系列が一つ以上の未来の観測値ot+mを含み、ここでmが正の整数であって、
IPC (1):
FI (1):
F-Term (6):
5J062AA08
, 5J062AA09
, 5J062CC11
, 5J062CC18
, 5J062DD23
, 5J062DD25
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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