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J-GLOBAL ID:200903070894937827

構造物変位計測装置および構造物変位計測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (9): 飯高 勉 ,  阿部 龍吉 ,  蛭川 昌信 ,  白井 博樹 ,  内田 亘彦 ,  菅井 英雄 ,  青木 健二 ,  韮澤 弘 ,  米澤 明
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003119359
Publication number (International publication number):2004325209
Application date: Apr. 24, 2003
Publication date: Nov. 18, 2004
Summary:
【課題】橋桁などの構造物の変位を精度良く計測する変位計測装置および構造物変位計測方法を提供すること。【解決手段】4a〜4cは橋の主桁、5は補助桁、9a〜9jは主桁の変位計測面である。20は3DLS、20aはレーザーの発射位置である。3DLS20により、変位計測面9a〜9jを計測する。計測データは、平面モデル化処理やスムージング処理を行い誤差を低減する。計測データはある期間をおいて時間差をもって取得し垂直変位の表示、または任意の視点からの平面表示を行う。このようにして、ユーザは、計測対象物の変位を定量的、或いは視覚的に確認することができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
3次元レーザースキャナと、前記3次元レーザースキャナにより得られた計測データを画像処理するデータ処理部と、データ処理部で形成された画像を表示する表示部とを備え、 前記3次元レーザースキャナの測定基準点を、対象とする構造物の不動点に設定し、前記3次元レーザースキャナにより、異なる時期に前記構造物の計測面をスキャニングしてそれぞれの計測データを取得し、前記表示部に構造物の変位の画像を表示することを特徴とする、構造物変位計測装置。
IPC (2):
G01B11/00 ,  G01S17/88
FI (2):
G01B11/00 A ,  G01S17/88 Z
F-Term (37):
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065AA19 ,  2F065AA20 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065DD04 ,  2F065FF04 ,  2F065FF12 ,  2F065FF61 ,  2F065FF65 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065LL15 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR07 ,  2F065RR09 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5J084AA06 ,  5J084AB16 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA50 ,  5J084BB26 ,  5J084CA03 ,  5J084CA34 ,  5J084CA65 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084EA01 ,  5J084EA07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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