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J-GLOBAL ID:200903071108862998

α放射能測定装置およびα放射能測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 田中 重光 ,  石川 新
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003398003
Publication number (International publication number):2005156462
Application date: Nov. 27, 2003
Publication date: Jun. 16, 2005
Summary:
【課題】 本発明は、不導体材料の放射性廃棄物の測定を可能とし、排気処理施設費用の削減を図るα放射能測定装置およびα放射能測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】測定対象が塩化ビニールやテフロン等の不導体材料である放射性廃棄物のα放射能測定装置において、前記放射性廃棄物を収納して測定ガスが流通すると共に、前記放射性廃棄物に帯電防止剤を塗布する塗布装置(1)を有する電離チャンバ(2)と、前記電離チャンバ(2)より排出される測定ガスの電離電流を測定する電離装置(3)と、を具えていることを特徴とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
測定対象が塩化ビニールやテフロン等の不導体材料である放射性廃棄物のα放射能測定装置において、前記放射性廃棄物を収納して測定ガスが流通すると共に、前記放射性廃棄物に帯電防止剤を塗布する塗布装置を有する電離チャンバと、前記電離チャンバより排出される測定ガスの電離電流を測定する電離装置と、を具えていることを特徴とするα放射能測定装置。
IPC (3):
G01T1/185 ,  G01T1/167 ,  G01T7/10
FI (4):
G01T1/185 D ,  G01T1/167 C ,  G01T1/167 D ,  G01T7/10
F-Term (7):
2G088EE23 ,  2G088EE25 ,  2G088FF06 ,  2G088GG02 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ31
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 特許第2703409号公報(図1)
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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