Pat

J-GLOBAL ID：200903071702070724

三次元計測装置

Inventor： 藤井 真一 ,  山川 英二 ,  唐崎 敏彦
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996013985
Publication number (International publication number)：1997210649
Application date： Jan. 30, 1996
Publication date： Aug. 12, 1997
Summary：

【要約】【課題】 人為的操作による誤差を排斥して測量精度を高めることのできる三次元計測装置を提供する。【解決手段】 被測定物を撮影して得られたステレオ画像を形成する第1画像データと第2画像データとを入力して(#1、#2)、表示された第1画像データおよび第2画像データでそれぞれ対応する点を外部操作により指定すると(#3、#5、#8、#10)、第1画像データおよび第2画像データ上の指定された点の近傍から真の対応点が検出される(#4、#6、#9、#11)。したがって計測のために真の対応点が指定されることで外部操作による指定誤差が排されて測定精度が向上する。

Claim (excerpt)：

被測定物を撮影して得られた前記被測定物のステレオ画像を形成する第1画像データと第2画像データとを入力し、前記第1画像データおよび前記第2画像データ上でそれぞれ対応する対応点の位置関係を用いて前記被測定物の三次元形状を計測する三次元計測装置であって、前記入力した第1画像データと第2画像データとを表示する表示手段と、前記表示手段により表示された前記第1画像データおよび前記第2画像データ上でそれぞれ対応する点を外部操作により指定する点指定手段と、前記第1画像データおよび前記第2画像データ上の前記点指定手段により指定された前記点の近傍から真の前記対応点を検出する対応点検出手段とを備えた、三次元計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G01C 15/00

FI (2)：

G01B 11/24 K ,  G01C 15/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 画像処理装置及び方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-142791   Applicant：キヤノン株式会社
• 特開昭62-093765
  
• シールドセグメントの形状計測方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-003137   Applicant：鹿島建設株式会社
• 特開昭62-093765