放射線検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998361281
Publication number (International publication number)：2000180551
Application date： Dec. 18, 1998
Publication date： Jun. 30, 2000
Summary：

【要約】【課題】容易に測定視野及び位置分解能等を変更することができる放射線検出装置を提供する。【解決手段】位置検出型光電子増倍管を備える放射線検出モジュール10を複数用いた放射線検出モジュールアレイ1aと、コリメータ1bからなる放射線検出部1によって放射線検出を行い、それぞれの放射線検出モジュール10の出力端子からの検出信号について、それらの接続と位置検出回路3への出力信号の選択を信号選択回路2によって設定・制御することによって、装置構成の変更を行うことなく、測定中における測定視野及び位置分解能の選択・切り換えが可能となる。また、この視野の設定はデータ取得と同様にコンピュータ5によって行われるので、視野設定及びデータ取得等を対応させて制御することができる。

Claim (excerpt)：

入射した放射線によって蛍光を発するシンチレータと、前記シンチレータからの前記蛍光を検出する位置検出型光電子増倍管と、を含む放射線検出モジュールを複数有して構成され、所定の視野を測定可能な領域である全視野として構成された放射線検出手段と、複数の前記放射線検出モジュールがそれぞれ有する複数の出力端子からの検出信号が入力され、前記出力端子間及び外部出力への接続の設定を行って外部への出力信号を選択することによって、前記全視野のうちの一部または全部を測定視野として設定する信号選択回路と、前記信号選択回路からの前記出力信号が入力されて、前記測定視野中における放射線の入射位置を検出する位置検出回路と、前記位置検出回路から入力される位置データを収集するデータ処理回路と、前記データ処理回路からのデータの取得、及び選択制御信号による前記信号選択回路の制御、を行う制御手段と、を備えることを特徴とする放射線検出装置。

IPC (2)：

G01T 1/161 , G01T 1/208

FI (2)：

G01T 1/161 C , G01T 1/208

F-Term (6)：

2G088EE02 , 2G088FF04 , 2G088GG18 , 2G088JJ33 , 2G088KK27 , 2G088KK35

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

特開昭61-160078
改良型ガンマ・カメラ撮像システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-141175 Applicant：エイデックラボラトリーズインコーポレーテッド
X線CTスキャナ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-294165 Applicant：株式会社東芝

Cited by examiner (3)

特開昭61-160078
改良型ガンマ・カメラ撮像システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-141175 Applicant：エイデックラボラトリーズインコーポレーテッド
X線CTスキャナ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-294165 Applicant：株式会社東芝

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