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J-GLOBAL ID：200903072041205403

蛍光寿命測定方法および装置

Inventor：
ドクヨン、キム

About ドクヨン、キム

, 
スクベイ、ムーン

About スクベイ、ムーン

, 
ドンスー、リー

About ドンスー、リー


Applicant, Patent owner：
クヮンジュ・インスティテュート・オブ・サイエンス・アンド・テクノロジー

About クヮンジュ・インスティテュート・オブ・サイエンス・アンド・テクノロジー


Agent (9)： 山崎 行造 ,  杉山 直人 ,  白銀 博 ,  赤松 利昭 ,  奥谷 雅子 ,  尾首 亘聰 ,  内藤 忠雄 ,  常光 克明 ,  安藤 麻子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008267154
Publication number (International publication number)：2009098149
Application date： Oct. 16, 2008
Publication date： May. 07, 2009
Summary：
【課題】蛍光物質の特性値である蛍光寿命を短時間内に正確かつ精密に測定するための蛍光寿命測定装置および方法を提供する。【解決手段】本発明に係る蛍光寿命測定装置は、蛍光分子を含む試料に照射するパルス形態の励起光を発生させる励起光発生部と、前記励起光を前記試料に照射して生成される蛍光光子を収集する蛍光光子収集部と、前記収集された多数の蛍光光子をアナログ波形のパルス型電気信号である蛍光電気信号に変換する光感知部と、前記変換された蛍光電気信号の時間平均値、すなわち平均遅延時間を求め、これを既決定された装置遅延時間を基準とした相対的遅延時間として採用して前記試料の蛍光寿命を決定する蛍光寿命信号処理部とを備えることを特徴とする。また、本発明は、前記励起光が前記光感知部でパルス型電気信号である基準電気信号に変換され、前記蛍光寿命信号処理部が前記基準電気信号の平均遅延時間を計算して前記既決定された装置遅延時間を決定するという特徴を含む。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
蛍光分子を含む試料に照射するパルス型励起光を発生させる励起光発生部と、 前記励起光を前記試料に照射して生成される蛍光光子を収集する蛍光光子収集部と、 前記収集された蛍光光子をパルス型電気信号である蛍光電気信号に変換する光感知部と、 事前に決定された装置遅延時間に対する相対的時間遅延であり、前記変換された蛍光電気信号の時間平均値である平均時間を求めて試料の蛍光寿命を決定する蛍光寿命信号処理部とを備える蛍光寿命測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/64
FI (1)：
G01N21/64 B
F-Term (10)：
2G043AA01 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA01 ,  2G043GA07 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • けい光分析, 1974, 第250-266頁
Cited by examiner (1)
  • けい光分析, 1974, 第250-266頁

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