Pat
J-GLOBAL ID：200903072097912153

接触状態観察方法およびその装置

Inventor：
中山 景次

About 中山 景次

, 
斉藤 昇

About 斉藤 昇


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001005733
Publication number (International publication number)：2002214103
Application date： Jan. 12, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】本発明は、固体と固体の動的接触部より発生する荷電粒子とAE信号を同時計測することにより、摩擦面のミクロな破壊状態、摩耗新生面の発生状態、摩耗新生面と周囲分子の相互作用状態、マイクロプラズマの発生状態などの情報によりに、摩擦の動的接触状態を多角的に観察できる方法およびその装置を提供することを目的とする.【解決手段】本発明による接触状態観察方法およびその装置は、プラスあるいはマイナスの電圧を印加することによりスライダーと被検体との摩擦接触部で発生する荷電粒子を捕集し、これを信号として検知するとともに、被検体の材質の一部が摩擦面で破壊するときに発生するアコースティックエミッションの信号を検知し、両者の信号を同時に計測開始し、それぞれの信号を積算することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
プラスあるいはマイナスの電圧を印加することによりスライダーと被検体との摩擦接触部で発生する荷電粒子を捕集し、これを信号として検知するとともに、被検体の一部が摩擦面で破壊するときに発生するアコースティックエミッションの信号を検知し、両者の信号を同時に計測開始し、それぞれの信号を積算することを特徴とする接触状態観察方法。
IPC (5)：
G01N 3/56 ,  G01N 27/60 ,  G01N 29/14 ,  G11B 5/00 ,  G11B 21/20
FI (5)：
G01N 3/56 Z ,  G01N 27/60 C ,  G01N 29/14 ,  G11B 5/00 D ,  G11B 21/20 F
F-Term (10)：
2G047AC10 ,  2G047BA05 ,  2G047BC00 ,  2G047GG09 ,  2G047GG14 ,  2G047GG15 ,  5D091AA08 ,  5D091DD03 ,  5D091FF01 ,  5D091HH20
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
Show all
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM