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J-GLOBAL ID：200903072127223625

X線検出器及び放射線検出方法

Inventor：
本田 道隆

About 本田 道隆


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998153294
Publication number (International publication number)：1999344567
Application date： Jun. 02, 1998
Publication date： Dec. 14, 1999
Summary：
【要約】【課題】 各画素の電荷を取り出すスイッチング素子の電圧、電流特性が非線形であっても、一定のサンプリングタイミングで前記電荷を低ノイズで安定且つ確実に読み出すこと。【解決手段】 画素CPの蓄積電荷Qは信号線上に読み出され、チャージアンプより電圧V0に変換された後、積分回路により積分され電圧VXになる。前記電荷Qを読み出してからのサンプルホールド回路によるサンプリング時間を適切に決めることにより、電圧VXからスイッチング素子1の抵抗による影響を排除することができるため、電圧VXを安定にサンプルホールドすることができる。しかも、積分回路はチャージアンプで発生した高周波ノイズを減衰する特性を有するため、電圧VXのS/Nを改善することができる。
Claim (excerpt)：
2次元マトリックス状に配列された画素にX線を当てることにより各画素に蓄積された電荷をスイッチング素子を介して順次取り出し、取り出した電荷をチャージアンプにより電圧に変換し、この電圧をサンプルホールド回路によりサンプルホールドして出力するX線検出器において、前記チャージアンプとサンプルホールド回路との間に積分回路を備え、この積分回路により前記電圧を積分して得た電圧をサンプルホールドして出力することを特徴とするX線検出器。
IPC (4)：
G01T 1/00 ,  A61B 6/00 300 ,  G01T 1/24 ,  G06T 1/00
FI (4)：
G01T 1/00 B ,  A61B 6/00 300 S ,  G01T 1/24 ,  G06F 15/64 330
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
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