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J-GLOBAL ID：200903072132265948

R-T-B系磁石合金の金属組織評価方法

Inventor：
佐々木 史郎

About 佐々木 史郎

, 
大滝 篤史

About 大滝 篤史


Applicant, Patent owner：
昭和電工株式会社

About 昭和電工株式会社


Agent (6)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  鈴木 三義 ,  西 和哉 ,  村山 靖彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007257671
Publication number (International publication number)：2008058323
Application date： Oct. 01, 2007
Publication date： Mar. 13, 2008
Summary：
【課題】希土類含有合金の金属組織を評価する有効な評価方法を提供する。【解決手段】R-T-B系磁石合金断面の顕微鏡組織をデジタル画像として取り込み、該顕微鏡組織画像上に合金の凝固面にほぼ平行な長さ(L)の直線を引き、該直線と交わるR2T14B主相とRリッチ相の輝度の差から両相を判別し、その直線上の輝度がR2T14B主相と判断される輝度からRリッチ相と判断される輝度に変化する回数(N)で、直線の長さ(L)を除した値(L/N)をRリッチ相間隔(r)として評価するR-T-B系磁石合金の金属組織評価方法とする。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
R-T-B系磁石合金断面の顕微鏡組織をデジタル画像として取り込み、該顕微鏡組織画像上に合金の凝固面にほぼ平行な長さ(L)の直線を引き、該直線と交わるR2T14B主相とRリッチ相の輝度の差から両相を判別し、その直線上の輝度がR2T14B主相と判断される輝度からRリッチ相と判断される輝度に変化する回数(N)で、直線の長さ(L)を除した値(L/N)をRリッチ相間隔(r)として評価することを特徴とするR-T-B系磁石合金の金属組織評価方法。
IPC (5)：
G01N 21/27 ,  C22C 38/00 ,  H01F 1/053 ,  H01F 1/08 ,  H01F 1/06
FI (5)：
G01N21/27 A ,  C22C38/00 303D ,  H01F1/04 H ,  H01F1/08 B ,  H01F1/06 A
F-Term (12)：
2G059AA03 ,  2G059BB08 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059KK04 ,  4E004DB02 ,  4E004TA03 ,  5E040AA04 ,  5E040BD01 ,  5E040CA01 ,  5E040HB17 ,  5E040NN06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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