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J-GLOBAL ID：200903072135538422

円形状検査対象物の形状検査方法及びそれに用いる形状検査装置

Inventor： 山田 典彦 ,  谷口 慶治
Applicant, Patent owner： 藤堂工業株式会社
Agent (1)： 原 謙三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995187495
Publication number (International publication number)：1997033230
Application date： Jul. 24, 1995
Publication date： Feb. 07, 1997
Summary：

【要約】【課題】 円形の検査対象物であるシールド板の形状検査を容易に行えるようにする。【解決手段】 カメラからの画像をデジタル化した画像データ5′から切り出した検査対象物の画像データ2′を構成する画素の座標系を一度rθ極座標系に変換した後、rθ直交座標系に展開して得られる画像データ2′′に対して測定を行う画像処理を行う。

Claim (excerpt)：

カメラ等から入力される画像データをデジタル変換することにより、直交座標系上に得られる第1のデジタル画像データを構成する第1の画素の明度レベルの分布を、極座標系に座標変換するとともに直交座標系に展開して得られる第2のデジタル画像データを構成する第2の画素の明度レベルの分布を用いて形状検査を行うことを特徴とする円形状検査対象物の形状検査方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 円形状被対象物の検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-090232   Applicant：ソニー株式会社
• 画像計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-069953   Applicant：三菱電機株式会社
• 画像変換装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-166567   Applicant：富士電機株式会社