問題点を抽出して改善策を提案する診断装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：三品岩男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001043249
Publication number (International publication number)：2002245231
Application date： Feb. 20, 2001
Publication date： Aug. 30, 2002
Summary：

【要約】【課題】具体的な案件についての問題点を抽出し、その改善策を提案する診断装置を実現する。【解決手段】入力項目DB110に案件の現状に関する質問を格納し、診断DB120に問題点とその改善策とを格納し、インデックスDB130に、質問の回答と問題点とを対応付ける情報を格納する。評価制御部102は、入力項目DB110を参照し、質問を提示し、その回答を受け付ける。そして、回答に基き、インデックスDB130を参照して、案件が抱える問題点を診断DB120から抽出する。そして、問題点と改善策とを提示する。

Claim (excerpt)：

案件の問題点を抽出して、改善策を提案する診断装置であって、案件の現状に関する質問を格納する第1の記憶領域と、問題点とその改善策とを記憶する第2の記憶領域と、前記案件の現状に関する質問の回答と、前記問題点とを対応付ける情報を記憶する第3の記憶領域とを有する記憶手段と、前記第1の記憶領域を参照して、案件の現状に関する質問を、回答受け付け可能な状態で表示する回答受け付け手段と、前記第3の記憶領域を参照して、受け付けた回答に対応付けられた問題点を前記第2の記憶領域から抽出する問題点抽出手段と、抽出した問題点を、その改善策とともに表示する診断結果表示手段とを備えることを特徴とする診断装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

工場診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-237623 Applicant：日立プラント建設株式会社
特開平1-161571
情報システム監査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-150298 Applicant：富士通株式会社

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