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J-GLOBAL ID：200903072786919815

非破壊透過式光測定装置用校正器

Inventor： 石川 進太郎 ,  飯田 潤二 ,  寺島 彰
Applicant, Patent owner： 住友金属鉱山株式会社
Agent (1)： 上田 章三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999108475
Publication number (International publication number)：2000039397
Application date： Apr. 15, 1999
Publication date： Feb. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】 非破壊透過式光測定装置の校正について被測定物を破壊することなく高精度に、再現性良くかつ簡便・短時間で行える非破壊透過式光測定装置用校正器を提供すること。【解決手段】 被測定物Mに対しその光入射部から光を入射させかつ被測定物内を透過してきた光を上記光入射部とは別の部位に設定された光出射部において検出しその光吸収測定(例えば吸収係数の測定)により被測定物中に含まれる特定成分を定量的に測定する非破壊透過式光測定装置に適用される校正器1であって、光の入射口3と出射口4を備えその内部には特定成分と同一若しくは類似の光吸収特性を有する物質(ショ糖液)2が充填されていると共に入射口から出射口までの光路長が被測定物内を透過する光の実効的光路長L’と同一若しくは略同一に設定された直線状筒体(密封体)11によりその主要部が構成されていることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被測定物に対しその光入射部から光を入射させかつ被測定物内を透過してきた光を上記光入射部とは別の部位に設定された光出射部において検出しその光吸収測定により被測定物中に含まれる特定成分を定量的に測定する非破壊透過式光測定装置に適用される校正器において、光の入射口と出射口を備えその内部には上記特定成分と同一若しくは類似の光吸収特性を有する物質が充填されていると共に入射口から出射口までの光路長が上記被測定物内を透過する光の実効的光路長と同一若しくは略同一に設定された密封体によりその主要部が構成されていることを特徴とする非破壊透過式光測定装置用校正器。

IPC (3)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/35

FI (3)：

G01N 21/27 F ,  G01N 21/01 A ,  G01N 21/35 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 分光分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-202879   Applicant：株式会社佐竹製作所
• 果実の糖度測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-170918   Applicant：石川島芝浦機械株式会社
• 特開平3-103752
  
• 特開平3-035145