分光分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996202879
Publication number (International publication number)：1998030984
Application date： Jul. 12, 1996
Publication date： Feb. 03, 1998
Summary：

【要約】【目的】外気温や湿度など外部の環境条件の経時変化に対して安定した測定精度が得られる分光分析装置を提供する。【構成】試料の吸光度の測定の際には、基準照射光量と前記試料と近似した散乱・透過特性を持つ基準色板18の透過光とから基準吸光度を算出し、該基準吸光度と過去の基準吸光度とを比較して、経時変化等により誤差が生じた基準吸光度を修正して正確な検出吸光度を算出する補正手段22を設けた。

Claim (excerpt)：

近赤外線の基準照射光量と、該基準照射光量を試料に照射して得られる透過光とを検出して、試料の含有成分に関係する複数の波長の吸光度を算出し、その検出吸光度から、予め求めてある成分計算式を使用して前記試料の特定成分値を求める分光分析装置であって、前記試料の吸光度の測定の際には、前記基準照射光量と前記試料と近似した散乱・透過特性を持つ基準色板の透過光とから基準吸光度を算出し、該基準吸光度と過去の基準吸光度とを比較して、経時変化等により誤差が生じた基準吸光度を修正して正確な検出吸光度を算出する補正手段を設けたことを特徴とする分光分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 , G01N 21/85

FI (2)：

G01N 21/35 Z , G01N 21/85 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

近赤外成分分析器の光学系
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-162207 Applicant：株式会社ケット科学研究所
特開昭63-167244
特開平3-269347

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